第1章|計測工学

生体計測装置学 第1章
収録 26問(第31〜39回)誤差・雑音・信号処理・トランスデューサ・増幅器

「測る」ことそのものの理論。誤差雑音とその対策信号処理センサ(トランスデューサ)生体信号増幅器が毎年の得点源になる。数式より「どれとどれを対にして覚えるか」で決まる。

誤差 — 系統誤差と偶然誤差

最頻出の対比

系統誤差=一定方向の偏り。正確度(accuracy)=真値への近さを左右し、校正で除去する。
偶然誤差=ランダムなばらつき。精密度(precision)を左右し、繰り返し測定の平均・加算平均で低減できる(系統誤差は平均しても消えない)。

正規分布の含有確率は暗記必須:M±1σ=68.3%/M±2σ=95.4%/M±3σ=99.7%。63.2%(1−1/e)は過渡現象の時定数の値で、±1σと混同させるひっかけ。

誤差の伝播:積・商で表す量(P=VI、I=V/R)の相対誤差は各相対誤差の和。例=電流計1%×電圧計2%の電力→3%、電圧計4%÷抵抗2%の電流→6%。和・差の量は絶対誤差を足す。

雑音とその対策

雑音正体・対策
熱雑音(ジョンソン)抵抗中の電子の熱運動。抵抗・温度・帯域に依存(内部雑音)
ショット雑音/1/f(フリッカ)電流の離散性/低周波ほど大(周波数に反比例)。ともに内部雑音
ハム(商用交流)50/60Hz。ハム(ノッチ)フィルタ+差動増幅(高CMRR)で除去
高周波雑音ローパスフィルタ(ハムフィルタでは取れない)
不規則(ランダム)雑音同期加算平均。SN比はN回加算で√N倍に改善

内部雑音=抵抗の温度上昇・部品の接触不良・部品間の電磁誘導。外来雑音=落雷・接地不良・商用ハム。区別が問われる。外来対策=シールド線・より線・接地。

信号処理の手法と用途

  • 加算平均=誘発電位などの微小信号をSN比向上で検出(√N倍)
  • FFT=周波数解析・パワースペクトル導出
  • 自己相関=周期的成分の抽出
  • ローパス/移動平均=高周波(筋電図混入)除去・平滑化
  • ハイパス=基線動揺(低周波ドリフト)の抑制
  • 微分=ピーク位置・立ち上がり検出(傾き0が極大)

トランスデューサ(センサ)と物理量

センサ測る物理量
ストレインゲージひずみ・変位・力(観血式血圧)
圧電素子(PZT)圧力・振動・超音波
サーミスタ/熱電対温度(熱希釈式心拍出量)
フォトダイオード/CdS光(SpO2・照度)
ホール素子磁気
差動トランス変位(位置)
HgCdTe・赤外線検出素子赤外線(CO2=カプノメータ)

望ましい特性=高選択性・良好な直線性・十分な応答速度・低侵襲・SN比は大きいほど良い(「小さくできる=良い」はひっかけ)。

生体信号増幅器・電極・テレメータ

生体信号増幅器の要件入力インピーダンス大(電極の高インピーダンスに対応)・CMRR(同相除去比)大(同相のハムを除去=差動増幅の主目的)・入力換算雑音小・オフセット小・SN比大。入力インピーダンスは単位Ωで周波数依存性をもつ。

電極:接触インピーダンスは接触面積に反比例(広いほど低下)、周波数が高いほど低下、ペーストで低下。銀‐塩化銀(Ag/AgCl)=不分極電極で基線が安定。イオン電流↔電子電流を変換する。カーボン電極はX線透過性でカテ室向き。

暗記する単位

コンダクタンス=S/静電容量=F/インダクタンス=H/磁束密度=T/磁束=Wb/応力・圧力=Pa/吸収線量=Gy・等価線量=Sv・放射能=Bq(放射線の3単位は混同注意)。
デシベル:電圧比は20log、電力比は10log。比20→26dB、比100→40dB、比1000→60dB。

小電力医用テレメータ420〜450MHz帯・6バンド(色ラベル)・5型。チャネル間隔=A型12.5/B25/C50/D100/E500kHz。混信対策=色ラベルによるゾーン配置。