第24回 言語聴覚士国家試験 第164問
高次脳機能障害第24回
第24回 言語聴覚士国家試験 第164問(高次脳機能障害)の正答は 5 です。小児で後天的に脳が障害される原因として最も頻度が高いのは外傷性脳損傷(頭部外傷)である。
問題
小児の後天性脳損傷の原因として最も多いのはどれか。
- 1.脳形成異常症
- 2.脳腫瘍
- 3.中枢神経感染症
- 4.脳梗塞
- 5.外傷性脳損傷 ✓
正答:5番
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解説
■ 正答:5番 — 小児の後天性脳損傷の原因で最も多いのは外傷性脳損傷
小児で後天的に脳が障害される原因として最も頻度が高いのは外傷性脳損傷(頭部外傷)である。事故・転落などによる頭部外傷が小児の後天性脳損傷の主因となる。
※問題文の「後天性援護障害」は記録上の文字の乱れとみられ、後天性の脳損傷(高次脳機能障害)を指すものとして解釈した。
【各選択肢の解説】
1.脳形成異常症 — ❌ 先天的な要因であり後天性の原因ではない。
2.脳腫瘍 — ❌ 後天性の原因となるが最多ではない。
3.中枢神経感染症 — ❌ 後天性の原因となるが最多ではない。
4.脳梗塞 — ❌ 小児では比較的まれである。
5.外傷性脳損傷 — ✅正しい(=正答)。小児の後天性脳損傷の原因で最も多い。
【試験対策ポイント】
小児の後天性脳損傷の三大原因=外傷・感染(脳炎・髄膜炎)・脳血管障害(小児では少ない)。なかでも事故・転落による外傷性脳損傷が最多。先天性の脳形成異常は「後天性」には含めない点に注意する。
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